Световой микроскоп основан на принципе пропускания света через образец и его дальнейшей фокусировке для создания увеличенного изображения. Однако, при изучении непрозрачных предметов, свет не может проходить через образец без значительного рассеивания или поглощения, что затрудняет получение четкого и информативного изображения.
Непрозрачные предметы поглощают или рассеивают свет, не позволяя ему проникать через них. Это вызывает недостаточное количество света для формирования изображения на детекторе микроскопа, что делает наблюдение непрозрачных предметов затруднительным или невозможным с помощью светового микроскопа.
Для изучения непрозрачных предметов, таких как металлические образцы или плотные ткани, обычно применяются другие методы и типы микроскопов, такие как электронные или конфокальные микроскопы. Эти микроскопы используют другие источники излучения и детекторы, которые позволяют преодолеть ограничения светового микроскопа и изучать непрозрачные образцы с более высоким разрешением и детализацией.